植物冠層分析儀如何測量葉面積指數╃·，測量原理基於貝爾定律╃·，結合Norman和Campbell線性小二乘理論；Norman和Campbell線性小二乘理論所需要的已知引數包括↟↟│✘：太陽天頂角·│◕、冠層下的透光率和葉片的聚集指數╃·，計算出冠層的有效LAI╃·，結合聚集指數推算出真正的有效LAI◕│╃✘。太陽方位角即太陽所在的方位╃·，指太陽光線在地平面上的投影與當地子午線的夾角◕│╃✘。
行動式植物冠層分析儀的功能╃·，測量原理基於貝爾定律╃·，結合Norman和Campbell線性小二乘理論；Norman和Campbell線性小二乘理論所需要的已知引數包括↟↟│✘：太陽天頂角·│◕、冠層下的透光率和葉片的聚集指數╃·，計算出冠層的有效LAI╃·，結合聚集指數推算出真正的有效LAI◕│╃✘。太陽方位角即太陽所在的方位╃·，指太陽光線在地平面上的投影與當地子午線的夾角◕│╃✘。
法國HI-PHEN植物冠層分析儀╃·，測量原理基於貝爾定律╃·，結合Norman和Campbell線性小二乘理論；Norman和Campbell線性小二乘理論所需要的已知引數包括↟↟│✘：太陽天頂角·│◕、冠層下的透光率和葉片的聚集指數╃·，計算出冠層的有效LAI╃·，結合聚集指數推算出真正的有效LAI◕│╃✘。太陽方位角即太陽所在的方位╃·，指太陽光線在地平面上的投影與當地子午線的夾角◕│╃✘。
行動式植物冠層分析儀測量的是什麼╃·，測量原理基於貝爾定律╃·，結合Norman和Campbell線性小二乘理論；Norman和Campbell線性小二乘理論所需要的已知引數包括↟↟│✘：太陽天頂角·│◕、冠層下的透光率和葉片的聚集指數╃·，計算出冠層的有效LAI╃·，結合聚集指數推算出真正的有效LAI◕│╃✘。太陽方位角即太陽所在的方位╃·，指太陽光線在地平面上的投影與當地子午線的夾角◕│╃✘。
AIRPHEN植物冠層分析儀原理╃·，測量原理基於貝爾定律╃·，結合Norman和Campbell線性小二乘理論；Norman和Campbell線性小二乘理論所需要的已知引數包括↟↟│✘：太陽天頂角·│◕、冠層下的透光率和葉片的聚集指數╃·，計算出冠層的有效LAI╃·，結合聚集指數推算出真正的有效LAI◕│╃✘。太陽方位角即太陽所在的方位╃·，指太陽光線在地平面上的投影與當地子午線的夾角◕│╃✘。
植物冠層分析儀品牌╃·，人眼所能能識別的光譜區間為可見光區間╃·，波長從400nm到700nm；普通數碼相機的光譜響應區間與人眼識別的光譜區間相同╃·，包含藍·│◕、綠·│◕、紅·│◕、三個波段；而多光譜相機的工作譜段範圍在其基礎上╃·，可以分可見光·│◕、近紅外光·│◕、紫外光等每臺多光譜相機的解析度不同╃·，所應用的領域也不同就比如說我們在做植被調查的時候╃·，植被的可見光波段對綠色比較敏感對紅色和藍色反射較弱◕│╃✘。
